Temsili kılıf görseli · Görseller temsilidir, tam özellikler için datasheet'e bakınız.
SN74ABT8245DWR
- Üretici
- Texas Instruments
- Kategori
- Kılıf / Paket
- SOIC-24
- Açıklama
- IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
Ürün Özellikleri
7 özellik
Logic Type
Scan Test Device with Bus Transceivers
Mounting Type
Surface Mount
Number of Bits
8
Operating Temperature
-40°C ~ 85°C
Part Status
Active
Supplier Device Package
24-SOIC
Supply Voltage
4.5V ~ 5.5V